MICROSCOPIA RAMAN CONFOCALE

 

 

Confocal Raman microscope

Model

NRS-3100

Lasers and lines availables

- Ar+ (458, 488, 514 nm)

- Kr+ (416, 413, 647 nm)

Spectrograph

2 Gratings: 1200 and 2400 grooves/mm

Slits: 0.05, 0.1, 0.2, 0,5 mm x 6mm

Notch and/or edge filters for each line

Detector

Peltier-cooled 1024x128 pixel CCD photon detector (Andor DU401BVI)

Objectives

Olympus 5x, 20x, 100x, L-shaped accessory

Mapping mode

Available

La microscopia Raman confocale è una tecnica vibrazionale pressoché universale, particolarmente sensibile ad analiti dotati di elevata deformabilità della densità elettronica (con legami coniugati o con presenza di atomi pesanti), pertanto l'acqua è un debole scatteratore e non interferisce. D'altro canto Il limite principale della tecnica Raman è l'insorgenza di fluorescenza, che si sovrappone alla componente Raman tipicamente registrata. La fluorescenza può essere ridotta con l'ausilio di righe differenti di eccitazioni Raman, disponibili presso il DSC. Nel DSC la microscopia Raman è usata per sistemi di largo interesse, che vanno da nanomateriali carboniosi, vetri per l'ottica non-lineare, gemme, cellule, biomolecole, reperti di interesse storico-artistico.

Contatti:

Prof. Alessandro Vergara

Email: alessandro.vergara@unina.it

Telefono: 081674259

 

MICROSCOPIA INFRAROSSA

 

FT-IR microscope

Model

Thermofisher 5700 equipped with Continuum microscope 

Modes

-Trasmission

- Reflection

-ATR

Detector

Narrow-, mid- and wide-band MCT-A; InGaAs

Objectives

Software

Omnic with IR spectra Database

Mapping mode

Not yet Available

La microscopia IR è una tecnica vibrazionale pressoché universale, particolarmente sensibile alla struttura molecolare e quindi alla composizione chimica del campione. La disponibilità delle tre modalità trasmissione/riflessione/ATR rendono il microscopio un importante completamento della classica tecnica FT-IR macroscopica (disponibile). Il limite principale della tecnica Raman è l'insorgenza di forte bande IR dovute all'acqua, che si sovrappone ad importanti regioni che costituiscono l'impronta digitale chimica del campione. In questo senso, ed in virtù di diverse regole di selezione, il microscopio IR è il naturale completamento della microscopia Raman. Nel DSC la microscopia IR è usata per sistemi di largo interesse, che vanno da materiali polimerici, ai minerali, biomolecole e reperti di interesse storico-artistico.

Contatti:

Prof. Alessandro Vergara

Email: alessandro.vergara@unina.it

Telefono: 081674259

 

MICROSCOPIA CONFOCALE (LSM)

 

 

Microscopio confocale LSM 700 URGB 2ch Zeiss su invertito Axio Observer Z1, completo di sistema di incubazione da tavolino

  • Microscopio rovesciato dotato di testa confocale spettrale a scansione laser (4 linee: 405, 488, 560 e 640 nm) con 3 canali, di cui 2 canali simultanei in fluorescenza ed un terzo canale simultaneo in luce trasmessa per contrasto interferenziale laser
  • Passo minimo sull'asse Z 10 nm
  • Quattro laser a stato solido con potenza nominale di almeno 1.2 mW a 405 nm, 3 mW a 488 nm, 3 mW a 560 nm e 1.5 mW a 640 nm
  • Software di autodiagnostica per la verifica automatica dei parametri operativi del sistema e degli  allineamenti, inclusa autocalibrazione e centratura pinhole
  • Funzioni per la ricostruzione tridimensionale di scansioni su più piani, creazione di filmati e funzioni di misurazione manuale, misurazione automatica, analisi di colocalizzazione, analisi spettrale, channel e spectral unmixing
  • Alta velocità di scansione spettrale, almeno 5 fps 512x512
  • Dicroico principale a basso angolo ed alta efficienza in grado di  disaccoppiare il segnale emesso dal campione con un'altissima efficienza (O.D. 7)
  • Possibilità di espansione con telecamera ad alta risoluzione integrata nel software di gestione del confocale ed utilizzabile sequenzialmente con la scansione confocale in esperimenti time-lapse grazie ad un sistema di incubazione da tavolino per il controllo di anidride carbonica e temperatura
  • Obiettivi per campo chiaro e fluorescenza: "N-achroplan" 10x/0.25 m27; EC "plan-neofluar" 20x/0,50 DIC m27; EC "plan-neofluar" 40x/1,30 oil DIC m27; "plan-apochromat" 63x/1,40 oil DIC m27

Il microscopio confocale a scansione laser (Confocal Laser Scanning Microscope) è uno strumento ottico versatile e potente che negli ultimi anni è stato oggetto di crescente interesse in ambito scientifico, non solo per le applicazioni in campo biologico, ma anche per la caratterizzazione di materiali, microstrutture e dispositivi. Tale strumentazione trova, infatti, notevole impiego nell'ambito della ricerca biomedica di alto livello e dell'analisi delle superfici nelle scienze dei materiali, consentendo un imaging tridimensionale di ineguagliabile precisione e l'esame accurato di strutture subcellulari e processi dinamici. Tra le tecniche di fluorescenza in cui trova impiego il microscopio confocale si annoverano la FRET (Fluorescence Resonance Energy Transfer) e la FRAP (Fluorescence recovery after photobleaching). Tale strumentazione consente, dunque, l'analisi di campioni biologici vitali o fissati (cellule eucariotiche, biofilm batterico, sezioni di tessuto), al fine di valutare l'espressione di specifiche proteine, analizzare le interazioni fisiologiche tra biomolecole, definire i pathway intracellulari di molecole o nanostrutture internalizzate in cellule bersaglio. Nell'ambito specifico dei nanomateriali, esso consente di implementare le strumentazioni disponibili presso il Dipartimento di Scienze Chimiche per l'analisi morfologica e topografica di nanomateriali, microstrutture e dispositivi, offrendo la possibilità di una ricostruzione tridimensionale non distruttiva delle sezioni dei materiali in esame.

Contatti:

Dott.ssa Angela Arciello

Email: anarciel@unina.it

Telefono: 081679147

 

MICROSCOPIA ELETTRONICA A SCANSIONE (SEM)

 

Electron beam resolution

・High vacuum imaging, optimum WD:

-- 1.0 nm at 15 kV (TLD-SE)

-- 1.4 nm at 1 kV (TLD-SE) without beam deceleration

-- 4.0 nm at 100 V (DBS)

・・ High vacuum analysis, analytical WD:

-- 3.0 nm at 15 kV and 5 nA (TLD-SE)

Electron beam parameter space

・・ Beam landing energy: 20 eV - 30 keV

・・ Max. Horizontal Field Width: 4.4 mm (29x Mag)

Detectors

・・ In-lens SE detector (TLD-SE)

・・ In-lens BSE detector (TLD-BSE)

・・ Everhardt-Thornley SED

・・ Low vacuum SED (LVD)

・・ IR-CCD

・・ High sensitivity low kV Directional Backscattered Detector (DBS)

EDS Microanalysis

・・ EDS Bruker XFlash 6-10

Il Nova Nano FEG-SEM 450 è un microscopio elettronico a scansione in grado di produrre ed analizzare immagini morfologiche ad altissima risoluzione. Ha una ampia gamma di applicazioni nella caratterizzazione di materiali e nanomateriali di ogni tipo (inorganici, organici, compositi), in campo ambientale (determinazione aerodispersi, amianto), storico-artistico, biologico. Consente di operare su una vasta gamma di ingrandimenti, sia in altissimo vuoto (alta risoluzione) che in basso vuoto (es.: materiali biologici non completamente disidratati, campioni non metallizzati riutilizzabili). Lo strumento dispone di un sistema di microanalisi EDS con mappatura che consente l'analisi elementare qualitativa e quantitativa sui campioni.

Contatti:

Dott. Fabio Borbone

Email: fabio.borbone@unina.it

Telefono: 081674446

 

MICROSCOPIA ELETTRONICA IN TRASMISSIONE (TEM)

 


FEI TECNAI G2 200kV

Specifications:

-Electron source with LaB6 emitter and flexible high tension between 20 and 200 kV.

-S-Twin objective lens for high resolution applications

-Bottom mounted CCD FEI Eagle, 4k x 4k, HS scintillator

-STEM mode  with HAADF detector

-Diffraction

-Electron tomography

-Low-Dose Technique

-TEM point resolution: 0.24 nm

-TEM line resolution: 0.14 nm

Sample holders:

-Single tilt

-Double tilt

-Tomography holder

The Tecnai G2 S-TWIN is an easy to use transmission electron microscope (TEM) designed to provide high-resolution imaging in materials sciences, nanotechnology and life science applications. Accelerating voltages ranging from 20 kV to 200 kV are ideal for polymers and biological matrices and provide the low voltage capability needed to minimize beam damage to delicate structures.  The STEM unit also enables "Z-contrast" imaging by detection of the electrons scattered to a high-angle annular dark-field (HAADF) detector, which constitutes a powerful technique for high-resolution imaging under conditions that reduce the interpretation problems associated with conventional high-resolution imaging.

Contatti:

Dott. Rocco Di Girolamo

Email:  rocco.digirolamo@unina.it

Telefono: 081674307

MICROSCOPIA A FORZA ATOMICA (AFM)

 


Bruker MultiMode 8 AFM

Specifications:

- Scanners "E" (125µm x 125µm XY and 5µm Z) and "J" (10µm x 10µm XY and 2.5µm Z range)

- Sample heater-cooler with -35 to 250°C range (includes integrated scanner with 125µm x 125µm XY and 5µm Z range)

- Probe holder for most imaging applications in liquids

- PeakForce QNM technology for quantitative mapping of material properties

- VT-102 vibration isolation table

The MultiMode-8 is designed to perform both topographic and mechanical investigations of surfaces. Besides the common contact or tapping measuring modes in air, our instrument is equipped with a liquid cell for measurements in aqueous environment as well as scanners for measurements ranging from 125µm down to the nm range. A connected temperature control unit enables investigation of the topography and mechanical specifications within a temperature range of –35 to 250°C. The Peak Force QNM Program allows to perform simultaneous quantitative measurements of nanoscale material characteristics like Young-modulus (elasticity), adhesion forces, deformation, and energy dissipation.

Imaging Modes: PeakForce Tapping Mode, PeakForce Tapping Mode with ScanAsyst,Tapping Mode, Contact Mode, Phase Imaging, Quantitative Nanomechanical Measurements, Scanning Kelvin Probe and Imaging in Liquids

Contatti:

Apparecchiatura gestita dal gruppo di Fisica dei Polimeri (PPL)

Prof. Claudio De Rosa

Email: claudio.derosa@unina.it

Telefono: 081674346

Dr.ssa Miriam Scoti

Email: miriam.scoti@unina.it

Telefono: 081674304

 

MICROSCOPIA OTTICA (OM)

 

Polarized light microscopy

Model Zeiss Axio Imager . A1m

In transmitted-light:

• Orthoscopy: linear and circular polarization

• Conoscopy

• Brightfield

• Darkfield

• Differential Interference Contrast (DIC)

• Polarization

In reflected-light:

• Brightfield

• Darkfield

• Polarization

• Differential Interference Contrast (DIC)

Objective:

LC EC Epiplan-NEOFLUAR 20x/0.22 HD DIC

LC EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0.55 HD DIC

EC Plan-NEOFLUAR 2,5x/0.075

EC Plan-NEOFLUAR 10x/0.3 Pol

EC Plan-NEOFLUAR 20x/0.5 Pol

EC Plan-NEOFLUAR 40x/0.9 Pol

Cameras:

AxioCam ICc5

Software AxioVision modules:

Panorama (image acquisition scanning stage), Automeasure.

2D observations. Crystal physics characterization with optical properties of materials. Textural and morphological characterizations. Materials Type: minerals and rocks, gems, cultural heritage, biology.

 

Axio Zoom.V16 (focus motor)

Objective:

PlanApo Z 1.0x/0.25 FWD 60

Apo Z 1.5x/0.37 FWD 30

Stero discovery. V20 (focus motor)

Objective:

PlanApo S 1.0x FWD 60

PlanApo S 1,5x FWD 30

Illumination:

CL 9000 LED CAN with fiber optic spot, annular, linear, vertical, diffuser, area illumination and Epi-Illuminator Z, LED annular lights with segmenting function, Fiber optic and LED transmitted light systems.

Illumination techniques:

Brightfield, darkfield, oblique light,

Cameras:

AxioCam ICc5

Software AxioVision modules:

Extended Focus (calculation of a sharp image from several focus planes),  Interactive Measurement (expanded interactive measurement techniques).

3D observations, Morphological and textural characterizations, observation and study of physical properties (growth effect, luster, color, fracture, inclusion, etc.). Materials Type: minerals and rocks, gems, cultural heritage, films, polymer, etc.

Contatti:

Prof.ssa  Manuela Rossi  (Dipartimento di Scienze della Terra, dell'Ambiente e delle Risorse)

Email: manuela.rossi@unina.it

Telefono: 0812538317